電子元器件的可靠性評價是指對電子元器材產品、半成品或模擬樣片，通過各種可靠性評價辦法，如可靠性試驗、加速壽數試驗和快速評價技能等，并運用數理統計工具和有關模擬仿真軟件來評定其壽數、失效率或可靠性質量等級。
  隨著電子元器材可靠性的要求不斷進步，電子元器材向超微型化、高集成化、多功能化方向更加迅猛的發展，對器材的可靠性評價技能日益為人們所關注。近年來，在這方面也相繼取得了很多好的進展。
  有的出產單位，開端選用加速壽數試驗辦法，能夠縮短一些評價時刻。后來，又選用晶片級可靠性 (WLR) 評估技能，在出產過程中或封裝前用測驗結構樣片進行可靠性評估，加強了出產過程的操控，使影響器材可靠性的各種因素在出產過程中得到了及時的排除和改進。