可靠性試驗進行介紹：
跌落試驗（
暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷
GB/T2423.8-1995
跌落測試機
）電性能參數測試：如果被測試樣品為
，參照附錄一進行參數測試。如果被測試樣品為
，參照附錄二進行參數測試。
）功能測試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）結構測試：殼體配合、結構件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結構。
）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。
）內存時鐘：樣機中存中存入
個電話和
條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間。
測試方法：
） 樣機中存中存入
個電話和
條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間。
）將樣機設置為開機插卡狀態，對手機進行
個面
的自由跌落實驗，每個面的跌落次數為
次，每個面跌落面都要對手機的外觀、結構、內存、時間和功能進行檢查。
）跌落順序為：
）跌落過程中，對于翻蓋手機，應將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態；對于滑蓋手機應將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開到上限位置。
）若樣品數量為奇數，則多的一臺打開翻蓋或滑開滑蓋。
）測試條件：跌落高度
，
厚的大理石地板。（對于
手機，根據所屬公司質量部門的建議可調整為跌落高度為
手機外觀、結構、功能及內存時間無異常。
）參數測試：與綜測儀連接進行參數測試，電性能符合測試要求。
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動、
、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。
）結構檢查：裝飾件、
及
等無脫落，殼體卡鉤無脫出、斷裂；
無破裂；天線無脫出、脫落；轉軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響，
無破裂、脫落以及其它與測試前狀態不一致的現象；
）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆，無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態不一致的現象
）樣品內存：時鐘無異常（內存無丟失、時鐘無混亂、復位、超前、滯后等；
）備注：電池
電池蓋脫落、關機及掉卡等、如重啟無異常，不記錄為有問題。
重復跌落測試（
Micro-Drop Test
）
測試環境：
20~25
測試目的：
驗證樣品重復跌落的可靠性
桌面跌落機
不少于
臺樣機
）參數測試：如果被測試樣品為
，參照附錄一進行參數測試。如果被測試樣品為
，參照附錄二進行參數測試
）功能測試：撥打電話、顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、
卡以及其它未描述到的功能
）結構測試：殼體配合、結構件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結構
）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍，以及其它未描述到的外觀；
）內存時鐘：存入
個電話和
條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間
測試方法：
）在手機中預存入
個電話和
條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間。
）將樣機設置為開機狀態，插入測試卡，進行
次，第
次對樣品進行功能、結構、外觀、內存及時間的檢查。
）跌落速率為：
次
分鐘。
）跌落高度：
。
）跌落時一半樣品跌正面，一半樣品跌背面。
試驗標準：
重復跌落
50,000
次后，對樣品進行如下檢查
）參數測試：可與綜測儀建立連接進行參數測試，手機參數應符合測試要求
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動、
、揚聲器、受話器、回音、按鍵、指示燈、拍照、充電等功能無異常，無關機、掉卡現象以及其它未描述到的功能均正常。
）結構檢查：裝飾件、
及
等無脫落，殼體、卡鉤無脫出、斷裂；
無破裂；天線無脫出、脫落；轉軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂；晃動無異響；
無破裂、脫落以及其他與測試前狀態不一致的現象。
）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆、無裂紋、破損、沖擊痕以及其他與測試前狀態不一致的現象。
）樣品內存：時鐘無異常（內存無丟失；時鐘無混亂、復位、超前或滯后等）；
滾筒跌落測試（
Free Fall Test
）
測試環境：
室溫（
20-25
℃）
測試目的：
驗證手機疲勞跌落的可靠性
GB/T 2423.8-1995
 IEC 68-2-32:1990
滾筒跌落測試機
不少于
臺
1
）參數測試：如果被測試樣品為
，參照附錄一進行參數測試。如果被測試樣品為
，參照附錄二進行參數測試。
）功能測試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）結構測試：殼體配合、結構件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結構。
）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。
）內存時鐘：樣機中存中存入
個電話和
條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間。
測試方法：
1
）將樣機設置為開機不插卡狀態，樣機中存入
個電話和
條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間。
）將樣品放入滾筒跌落試驗機，進行高度為
的
次隨機跌落測試。
）每
次對樣品進行功能與結構檢查，每
次進行電性能檢查。
）對于翻蓋手機，應將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態；對于滑蓋手機應將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開到上限位置。
 
測試標準：
手機外觀、結構、功能及內存時間無異常。
1
）參數測試：樣品電性能測試合格。
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動、
、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。
）結構檢查：裝飾件、
及
等無脫落，殼體卡鉤無脫出、斷裂；
無破裂；天線無脫出、脫落；轉軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響，
無破裂、脫落以及其它與測試前狀態不一致的現象。
4
）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆，無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態不一致的現象。
）樣品內存：時鐘無異常（內存無丟失、時鐘無混亂、復位、超前、滯后等）
）備注：電池
電池蓋脫落、關機及掉卡等、如重啟無異常，不記錄為有問題