用途：Apogee新的DLI-400測量儀設計用于測量400-700納米的光合有效輻射（PAR），是一種低成本的選擇，只在陽光和一些寬帶光源下準確。可以應用測量后的修正系數來提高光源下的準確性；除了測量PAR，DLI-400測量儀還可以計算每日光積分（DLI）和光周期。
DLI-400測量儀有兩種不同的屏幕模式：存儲數據和實時查看數據。在存儲數據屏幕中，它顯示DLI測量值、光照時間和哪**收集的數據（*多99天以前）。實時查看數據屏幕顯示過去2.5秒內PPFD的運行平均值。
技術參數：
|
測量重復性
|
小于 0.5 %
|
|
測量范圍
|
0 至 4000 μmol mˉ2 sˉ1
|
|
長期漂移
|
每年少于 2%
|
|
視野
|
180°
|
|
光譜測量范圍
|
(± 5 nm)370 至 650 nm（**陽光）
|
|
余弦響應
|
± 5 % 在 75? 天頂角
|
|
響應時間
|
2.5 秒
|
|
測量頻率
|
3分鐘
|
|
數據記錄容量
|
99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分鐘 PPFD/ePPFD 平均值）
|
|
非線性
|
小于 1 %（*高 4000 μmol mˉ2 sˉ1）
|
|
存儲數據分辨率 (PPFD)
|
0.1 μmol mˉ2 sˉ1（≥1000時屏幕不顯示小數）
|
|
存儲數據分辨率 (DLI)
|
0.1 mol mˉ2 天ˉ1
|
|
存儲數據分辨率（光周期）
|
0.1小時
|
|
連接性
|
Type--C 數據傳輸的 CSV 文件
|
|
ADC 分辨率
|
24 位
|
|
操作環境
|
-10 至 60 ℃；0 至 100 % 相對濕度
|
|
電池壽命
|
6個月
|
|
重量
|
67g
|