PS-200紫外可見光譜儀
PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光、透射光的光譜圖。
特點：
便攜堅固的鋁制外殼設計
APOGEE 的余弦校正器，確保低角度光的**測量
在標定的測量范圍300—1000nm((NIST 可追溯性)內分辨率小于1nm
Apogee 紫外近紅外光譜儀 PS-200配置：
1：光譜儀主機
2：2米光纖線纜
3：余弦校正放射頭黑帽
4：水平安裝座
5：校準證書
6：USB驅動、采集軟件等文件
7：藍色USB線纜
8：手提箱
9：手持延長桿
10:1年保修
標準軟件特征：
發光測量：測量以瓦特每平方米每納米或摩爾每平方米每秒每納米為單位；同時顯示完整的PPF值。
照明度測量：測量以流明每平方米每納米或尺燭光每平方英尺為單位；同時顯示完整的LUX值。
CIE（國際照明委員會）應用：系統顯示CIE制定的1931年X、Y色度圖。照明模式下顯示占有優勢的波長和純度，發光模式下顯示顏色溫度。
分光比色計：測量反射光線的顏色。同時系統會顯示非自照明的顏色空間圖表作為參照，圖表對色彩濃度、色差、X、Y、三基色和Delta-E等做了色彩評估和說明，并提供新的Delta-E色彩對比表。
化學成分測量：測量化學成分的濃度。同時系統會顯示濃度標度，或者將之前已經測量好的化學成分濃度與未知的樣品做對比。
UV測量：測量UV能量分布狀態。將UVA、UVB、UVC、UVA/UVB比率等以瓦特為單位繪制線形圖；提供紅斑和黑素原發生作用的*大時間。
Apogee 紫外近紅外光譜儀 PS-200技術指標：
光譜波長：190～850nm
校正波長范圍：300～850nm.
波長分辨率：0.85nm
探測器類型：CCD 2048像素
光柵類型：全部手寫和統計，590 g/mm
數字轉化：16 bit
信號噪聲比：1000:1
散射光：0.02%在435nm ; 0.2%在200nm
重復性：＜1%
不準確度：±10%
探測器曝光時間：1ms-65s
定向響應（到80°）：±5%
輸出接口：USB
電源要求：5V DC/100mA，采用USB線纜
工作溫度：0-60℃
光纜長度：2米
尺寸：69*100*150mm
重量：900g