應用領域:

iEDX-150WT鍍層測厚儀應用于PCB鍍層厚度測量，PCB鍍層分析，金屬電鍍鍍層分析領域

技術指標：

多鍍層，1～5層

測試精度：0.001 μm

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

測量時間：10~30秒

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射線管50kV/1mA，鉬、鎢、銠靶

6個準直器及多個濾光片自動切換

XYZ三維移動平臺，MAX荷載為5公斤

高清CCD攝像頭，準確監控位置

多變量非線性去卷積曲線擬合

高性能FP/MLSQ分析

儀器尺寸：840×613×385mm

樣品臺尺寸 ：620×525mm

樣品臺移動范圍 ：前后左右各100mm、高度5mm

圖譜界面：

軟件支持無標樣分析

寬大分析平臺

可自動連續多點分析

集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面

采用多種光譜擬合分析處理技術

分析報告結果

直接打印分析報告
報告可轉換為PDF，EXCEL格式