一、低氣壓試驗的目的

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法方法105 低氣壓試驗（等效美軍標MIL-STD-202F ）

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1 目的：確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿能力；確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力；檢驗低氣壓對元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應；有時候可用于確定機電元件的耐久性。

 本方法是常溫條件下的低氣壓試驗。若裝置元件的設備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用，而且能夠斷定高低溫和氣壓的綜合作用是造成失效的主要原因，常溫低氣壓試驗不能使用時，則應進行溫度-氣壓綜合環境試驗。

GJB 150.2A-2009

3.1 目的

本試驗的目的在于確定裝備在常溫條件下能否：

a)耐受低氣壓環境；

b)在低氣壓環境下正常工作；

c)耐受空氣壓力快速變化。

二、低氣壓相關試驗標準

1）GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實驗室環境試驗方法第二部分低氣壓（高度）試驗》

2）GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗方法方法105低氣壓試驗》（等效美軍標MIL-STD-202F ）

3）GJB 548B-2005《微電子器件試驗方法和程序方法1001 低氣壓（高空作業）》（等效美軍標MIL-STD-883D)

4）GB/T 2421-2008《電工電子產品基本環境試驗總則》

5）GB/T 2423.21-2008《電工電子產品基本環境試驗規程試驗M低氣壓試驗方法》

6）GB/T 2423.25-2008《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗方法》

7）GB/T 2423.26-2008《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗方法》

8）GB/T 2423.27-2005《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗》

9）GB/T 2424.15-2008《電工電子產品基本環境試驗規程》

10）MIL-STD-810F 《環境工程考慮與實驗室試驗低氣壓（高度）試驗》

11） GB/T 1920-1980  標準大氣(30公里以下部分)（2015年10月已作廢）

12）IEC 60068-2-41（1976）《基本環境試驗規程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗》

 ……

三、試驗條件：

1、試驗氣壓

GJB 150不適用于飛行高度超過30 000m的航天器、飛機或導彈上的裝備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對應的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對應的低氣壓值。對比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G共7個不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗條件有一定的規律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小；GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J共10個不同條件下的高度氣壓值，并且所列的高度-氣壓表中的試驗條件由A到試驗條件E有一定的規律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小，而由試驗條件F到試驗條件J沒有呈現規律性。與GJB 548所列的試驗條件對比，GJB 360 試驗條件增加了條件H到試驗條件J，對應的氣壓高度條件分別為：H：3 000m 70kPA；I：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。

2、試驗時間

GJB 360B-2009規定：

若無其他規定，試驗樣品在低氣壓條件下的試驗時間，可從下列數值中選取：

    5min、30min、1h、2h、4h和16h。

GJB 150.2A-2009

4.3.5 試驗持續時間

程序1的試驗持續時間應代表裝備在低氣壓環境下的預期使用時間，若這樣做需要的時間太長，則可以適當縮短時間。對大多數裝備來說，試驗時間至少持續1h。程序II、III和IV的試驗時間持續到所要求的各項性能測試完為止。