可程式高低溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。
可程式高低溫試驗(yàn)箱適合電子、電器、通訊、儀表、車(chē)輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。
符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2001溫度變化試驗(yàn)方法
IEC60068-2-1.1990低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
IEC60068-2-2.1974高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GJB150.3高溫試驗(yàn)
GJB150.4低溫試驗(yàn)